Validación de la versión en Español de la Escala de Optimismo Disposicional (LOT-R) en una muestra Chilena de estudiantes universitarios. TEPS [Internet]. 2016 May 31 [cited 2025 Nov. 3];34(1):53-8. Available from: https://www.teps.cl/index.php/teps/article/view/38